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DIN EN IEC 60749-41:2023-03
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices.
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NORM herausgegeben am 1.3.2023
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: DIN EN IEC 60749-41:2023-03
Ausgabedatum normen: 1.3.2023
SKU: NS-1102722
Zahl der Seiten: 26
Gewicht ca.: 78 g (0.17 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
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Die Annotation des Normtextes DIN EN IEC 60749-41:2023-03 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 41: Standardisierte Prüfverfahren für die Zuverlässigkeit von nichtflüchtigen Speicher-Bauelementen.
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