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DIN EN IEC 60749-5:2024-09
VDE 0884-749-5. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test.
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NORM herausgegeben am 1.9.2024
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: DIN EN IEC 60749-5:2024-09
Ausgabedatum normen: 1.9.2024
SKU: NS-1198464
Zahl der Seiten: 13
Gewicht ca.: 39 g (0.09 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Kategorie - ähnliche Normen:
Die Annotation des Normtextes DIN EN IEC 60749-5:2024-09 :
VDE 0884-749-5. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung.
