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DIN IEC 60749:1987-09
Semiconductor devices; mechanical and climatic test methods; identical with IEC 60749, edition 1984.
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente; Mechanische und klimatische Prüfverfahren.
NORM herausgegeben am 1.9.1987
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: DIN IEC 60749:1987-09
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.9.1987
SKU: NS-249956
Zahl der Seiten: 18
Gewicht ca.: 54 g (0.12 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Die Annotation des Normtextes DIN IEC 60749:1987-09 :
Halbleiterbauelemente; Mechanische und klimatische Prüfverfahren.
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