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DIN V VDE V 0126-18-4-1:2007-06
VDE V 0126-18-4-1. Solar wafers - Part 4-1: Process for measuring the electrical characteristics of silicon wafers - Minority carrier lifetime, Inline measuring method.
Automatische name übersetzung:
VDE V 0126-18-4-1. Solarwafer - Teil 4-1: Verfahren zur Messung der elektrischen Eigenschaften von Silizium-Wafern - Minoritätsträgerlebensdauer , in-line Messverfahren.
NORM herausgegeben am 1.6.2007
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: DIN V VDE V 0126-18-4-1:2007-06
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.6.2007
SKU: NS-599284
Zahl der Seiten: 7
Gewicht ca.: 21 g (0.05 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Die Annotation des Normtextes DIN V VDE V 0126-18-4-1:2007-06 :
VDE V 0126-18-4-1. Solarscheiben - Teil 4-1: Verfahren zur Messung der elektrischen Eigenschaften von Siliciumscheiben - Effektive Minoritätsladungsträgerlebensdauer, Inline-Messmethode.
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