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DIN V VDE V 0126-18-4-2:2007-06
VDE V 0126-18-4-2. Solar wafers - Part 4-2: Process for measuring the electrical characteristics of silicon - Minority carrier lifetime, Laboratory measuring method.
Automatische name übersetzung:
VDE V 0126-18-4-2. Solarwafer - Teil 4-2: Verfahren zur Messung der elektrischen Eigenschaften von Silizium - Minoritätsträgerlebensdauer , Labor -Messverfahren.
NORM herausgegeben am 1.6.2007
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: DIN V VDE V 0126-18-4-2:2007-06
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.6.2007
SKU: NS-599285
Zahl der Seiten: 7
Gewicht ca.: 21 g (0.05 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Die Annotation des Normtextes DIN V VDE V 0126-18-4-2:2007-06 :
VDE V 0126-18-4-2. Solarscheiben - Teil 4-2: Verfahren zur Messung der elektrischen Eigenschaften von Siliciumscheiben - Minoritätsladungsträgerlebensdauer, Labor-Messmethode.
