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E DIN EN 60749-27:2002-09 (Entwurf)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing; Machine model (MM).
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD); Machine Model (MM).
NORM herausgegeben am 1.9.2002
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: E DIN EN 60749-27:2002-09
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.9.2002
SKU: NS-291915
Zahl der Seiten: 16
Gewicht ca.: 48 g (0.11 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm (Entwurf)
Kategorie: Technische Normen DIN
Die Annotation des Normtextes E DIN EN 60749-27:2002-09 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD); Machine Model (MM).
