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E DIN EN 60749-27/A1:2011-10 (Entwurf)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM).
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM).
NORM herausgegeben am 1.10.2011
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: E DIN EN 60749-27/A1:2011-10
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.10.2011
SKU: NS-291913
Zahl der Seiten: 6
Gewicht ca.: 18 g (0.04 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm (Entwurf)
Kategorie: Technische Normen DIN
Die Annotation des Normtextes E DIN EN 60749-27/A1:2011-10 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM).
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