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E DIN EN 60749-28:2012-07 (Entwurf)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing - Direct contact charged device model (DC-CDM).
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Direct Contact Charged Device Model (DC-CDM).
NORM herausgegeben am 1.7.2012
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: E DIN EN 60749-28:2012-07
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.7.2012
SKU: NS-291916
Zahl der Seiten: 46
Gewicht ca.: 138 g (0.30 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm (Entwurf)
Kategorie: Technische Normen DIN
Die Annotation des Normtextes E DIN EN 60749-28:2012-07 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Direct Contact Charged Device Model (DC-CDM).
