Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
E DIN EN 60749-28:2012-07 (Entwurf)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing - Direct contact charged device model (DC-CDM).
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Direct Contact Charged Device Model (DC-CDM).
NORM herausgegeben am 1.7.2012
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: E DIN EN 60749-28:2012-07
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.7.2012
SKU: NS-291916
Zahl der Seiten: 46
Gewicht ca.: 138 g (0.30 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm (Entwurf)
Kategorie: Technische Normen DIN
Die Annotation des Normtextes E DIN EN 60749-28:2012-07 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Direct Contact Charged Device Model (DC-CDM).
Empfehlungen:
Aktualisierung der technischen Normen
Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Normen verwenden?
Wir bieten Ihnen eine Lösung, die Ihnen eine Monatsübersicht über die Aktualität der von Ihnen angewandten Normen sicher stellt.
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
