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E DIN EN 60749-5:2002-06 (Entwurf)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady state temperature humidity bias life test.
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter Vorspannung.
NORM herausgegeben am 1.6.2002
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: E DIN EN 60749-5:2002-06
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.6.2002
SKU: NS-291926
Zahl der Seiten: 12
Gewicht ca.: 36 g (0.08 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm (Entwurf)
Kategorie: Technische Normen DIN
Die Annotation des Normtextes E DIN EN 60749-5:2002-06 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter Vorspannung.
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