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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature.
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NORM herausgegeben am 1.9.2016
Bezeichnung normen: E DIN EN 60749-6:2016-09
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.9.2016
SKU: NS-647250
Zahl der Seiten: 12
Gewicht ca.: 36 g (0.08 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm (Entwurf)
Kategorie: Technische Normen DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 6: Lagerung bei hoher Temperatur.
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Letzte Aktualisierung: 2026-06-12 (Zahl der Positionen: 2 281 969)
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