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UNGÜLTIG E DIN EN 62047-18:2011-06 1.6.2011 Ansicht

E DIN EN 62047-18:2011-06 (Entwurf)

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18: Bending test methods of thin film materials.

Automatische name übersetzung:

Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 18: Biegeprüfverfahren für Dünnschichtwerkstoffe.



NORM herausgegeben am 1.6.2011


Sprache
Realisierung
Zugänglichkeitin 7 Werktagen
Preis69.90 € ohne MWS
69.90 €

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: E DIN EN 62047-18:2011-06
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.6.2011
SKU: NS-292593
Zahl der Seiten: 20
Gewicht ca.: 60 g (0.13 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm (Entwurf)
Kategorie: Technische Normen DIN

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Die Annotation des Normtextes E DIN EN 62047-18:2011-06 :

Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 18: Biegeprüfverfahren für Dünnschichtwerkstoffe.

Letzte Aktualisierung: 2026-03-24 (Zahl der Positionen: 2 269 385)
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