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        Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 26: Description and measurement methods for micro trench and needle structures.
          Automatische name übersetzung:
          Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 26: Beschreibung und Messverfahren für Mikro-Rillen und Nadelstrukturen.        
      
NORM herausgegeben am 1.5.2014
    
        Bezeichnung normen: E DIN EN 62047-26:2014-05
                
                
                
                Anmerkung:    UNGÜLTIG
               
                Ausgabedatum normen:  1.5.2014
                  SKU:  NS-292599
          Zahl der Seiten: 53
Gewicht ca.: 159 g (0.35 Pfund)
        Land:          Deutsche technische Norm (Entwurf)
        Kategorie: Technische Normen DIN
        
                
              
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 26: Beschreibung und Messverfahren für Mikro-Rillen und Nadelstrukturen.
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Letzte Aktualisierung: 2025-11-03 (Zahl der Positionen: 2 242 248) 
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