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E DIN EN 62047-29:2016-08 (Entwurf)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 29: Electromechanical relaxation test method for freestanding conductive thin-films under room temperature.
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NORM herausgegeben am 1.8.2016
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: E DIN EN 62047-29:2016-08
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.8.2016
SKU: NS-643057
Zahl der Seiten: 19
Gewicht ca.: 57 g (0.13 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm (Entwurf)
Kategorie: Technische Normen DIN
Die Annotation des Normtextes E DIN EN 62047-29:2016-08 :
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 29: Elektromechanisches Relaxations-Prüfverfahren für freistehende elektrisch leitende Dünnschichten bei Raumtemperatur.
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