Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
E DIN EN 62951-1:2015-06 (Entwurf)
Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 1: Bending test method for conductive thin films on flexible substrates.
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Flexible und dehnbare Halbleiterbauelementen - Teil 1: Biegetestverfahren für die leitenden Dünnschichten auf flexiblen Substraten.
NORM herausgegeben am 1.6.2015
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: E DIN EN 62951-1:2015-06
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.6.2015
SKU: NS-585513
Zahl der Seiten: 22
Gewicht ca.: 66 g (0.15 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm (Entwurf)
Kategorie: Technische Normen DIN
Die Annotation des Normtextes E DIN EN 62951-1:2015-06 :
Halbleiterbauelemente - Flexible und dehnbare Halbleiterbauelemente - Teil 1: Biegeprüfverfahren für elektrisch leitfähige Dünnschichten auf flexiblen Substraten.
Empfehlungen:
Aktualisierung der technischen Normen
Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Normen verwenden?
Wir bieten Ihnen eine Lösung, die Ihnen eine Monatsübersicht über die Aktualität der von Ihnen angewandten Normen sicher stellt.
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
