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E DIN EN IEC 60749-23:2025-10 (Entwurf)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life.
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NORM herausgegeben am 1.10.2025
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: E DIN EN IEC 60749-23:2025-10
Ausgabedatum normen: 1.10.2025
SKU: NS-1240959
Zahl der Seiten: 18
Gewicht ca.: 54 g (0.12 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm (Entwurf)
Kategorie: Technische Normen DIN
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Die Annotation des Normtextes E DIN EN IEC 60749-23:2025-10 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur.
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