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E DIN EN IEC 60749-28:2024-05 (Entwurf)
VDE 0884-749-28. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level.
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NORM herausgegeben am 1.5.2024
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: E DIN EN IEC 60749-28:2024-05
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.5.2024
SKU: NS-1171448
Zahl der Seiten: 49
Gewicht ca.: 147 g (0.32 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm (Entwurf)
Kategorie: Technische Normen DIN
Die Annotation des Normtextes E DIN EN IEC 60749-28:2024-05 :
VDE 0884-749-28. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level.
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