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E DIN EN IEC 60749-30:2019-09 (Entwurf)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing.
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NORM herausgegeben am 1.9.2019
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: E DIN EN IEC 60749-30:2019-09
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.9.2019
SKU: NS-968453
Zahl der Seiten: 25
Gewicht ca.: 75 g (0.17 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm (Entwurf)
Kategorie: Technische Normen DIN
Die Annotation des Normtextes E DIN EN IEC 60749-30:2019-09 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 30: Behandlung nicht hermetisch verkappter oberflächenmontierbarer Bauelemente vor Zuverlässigkeitsprüfungen.
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