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E DIN EN IEC 60749-34-1:2024-08 (Entwurf)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module.
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NORM herausgegeben am 1.8.2024
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: E DIN EN IEC 60749-34-1:2024-08
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.8.2024
SKU: NS-1188225
Zahl der Seiten: 37
Gewicht ca.: 111 g (0.24 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm (Entwurf)
Kategorie: Technische Normen DIN
Die Annotation des Normtextes E DIN EN IEC 60749-34-1:2024-08 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 34-1: Leistungszyklusprüfung für Leistungshalbleitermodule.
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