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E DIN EN IEC 63616:2026-07 (Entwurf)
VDE 0887-969-73. Measurement of the conductivity for metal thin films at microwave and millimeter-wave frequencies - Balanced-type circular disk resonator method.
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NORM herausgegeben am 1.7.2026
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: E DIN EN IEC 63616:2026-07
Ausgabedatum normen: 1.7.2026
SKU: NS-1274795
Zahl der Seiten: 13
Gewicht ca.: 39 g (0.09 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm (Entwurf)
Kategorie: Technische Normen DIN
Kategorie - ähnliche Normen:
Measurement of electrical and magnetic quantitiesConducting materials
Die Annotation des Normtextes E DIN EN IEC 63616:2026-07 :
VDE 0887-969-73. Messung der Leitfähigkeit von Metalldünnschichten bei Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen nach dem symmetrischen Kreisscheibenresonatorverfahren.
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