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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability.
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 21: Lötbarkeit.
NORM herausgegeben am 1.6.2002
Bezeichnung normen: E DIN IEC 60749-21:2002-06
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.6.2002
SKU: NS-303080
Zahl der Seiten: 25
Gewicht ca.: 75 g (0.17 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm (Entwurf)
Kategorie: Technische Normen DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 21: Lötbarkeit.
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Letzte Aktualisierung: 2026-04-24 (Zahl der Positionen: 2 274 650)
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