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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance; Unbiased HAST.
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 24: Beschleunigte Feuchtebeständigkeit; Hochbeschleunigende Wirkung (HAST) ohne elektrische Beanspruchung.
NORM herausgegeben am 1.11.2002
Bezeichnung normen: E DIN IEC 60749-24:2002-11
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.11.2002
SKU: NS-303082
Zahl der Seiten: 10
Gewicht ca.: 30 g (0.07 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm (Entwurf)
Kategorie: Technische Normen DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 24: Beschleunigte Feuchtebeständigkeit; Hochbeschleunigende Wirkung (HAST) ohne elektrische Beanspruchung.
Letzte Aktualisierung: 2026-06-10 (Zahl der Positionen: 2 281 585)
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