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E DIN IEC 60749-26:2011-09 (Entwurf)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge sensitivity testing - Human body model (HBM) - Component Level.
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 26: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Human Body Model (HBM) - Bauelementeniveau.
NORM herausgegeben am 1.9.2011
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: E DIN IEC 60749-26:2011-09
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.9.2011
SKU: NS-303083
Zahl der Seiten: 62
Gewicht ca.: 186 g (0.41 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm (Entwurf)
Kategorie: Technische Normen DIN
Die Annotation des Normtextes E DIN IEC 60749-26:2011-09 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 26: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Human Body Model (HBM) - Bauelementeniveau.
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