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E DIN IEC 60749-33:2002-10 (Entwurf)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance; Unbiased autoclave.
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 33: Beschleunigte Feuchtebeständigkeit; Autoclave ohne Vorspannung.
NORM herausgegeben am 1.10.2002
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: E DIN IEC 60749-33:2002-10
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.10.2002
SKU: NS-303086
Zahl der Seiten: 9
Gewicht ca.: 27 g (0.06 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm (Entwurf)
Kategorie: Technische Normen DIN
Die Annotation des Normtextes E DIN IEC 60749-33:2002-10 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 33: Beschleunigte Feuchtebeständigkeit; Autoclave ohne Vorspannung.
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