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E DIN IEC 60749-34:2003-01 (Entwurf)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power Cycling.
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 34: Lastwechselprüfung.
NORM herausgegeben am 1.1.2003
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: E DIN IEC 60749-34:2003-01
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.1.2003
SKU: NS-303087
Zahl der Seiten: 13
Gewicht ca.: 39 g (0.09 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm (Entwurf)
Kategorie: Technische Normen DIN
Die Annotation des Normtextes E DIN IEC 60749-34:2003-01 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 34: Lastwechselprüfung.
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