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E DIN IEC 60749-35:2004-12 (Entwurf)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for non-hermetic encapsulated electronic components.
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 35: Ultraschallmikroskopie für kunststoffverkappte Bauelemente der Elektronik.
NORM herausgegeben am 1.12.2004
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: E DIN IEC 60749-35:2004-12
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.12.2004
SKU: NS-303088
Zahl der Seiten: 34
Gewicht ca.: 102 g (0.22 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm (Entwurf)
Kategorie: Technische Normen DIN
Die Annotation des Normtextes E DIN IEC 60749-35:2004-12 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 35: Ultraschallmikroskopie für kunststoffverkappte Bauelemente der Elektronik.
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