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E DIN IEC 60749-38:2005-04 (Entwurf)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error rate testing of electronic components.
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 38: Soft-Error-Rate bei elektronischen Bauelementen.
NORM herausgegeben am 1.4.2005
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: E DIN IEC 60749-38:2005-04
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.4.2005
SKU: NS-303090
Zahl der Seiten: 18
Gewicht ca.: 54 g (0.12 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm (Entwurf)
Kategorie: Technische Normen DIN
Die Annotation des Normtextes E DIN IEC 60749-38:2005-04 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 38: Soft-Error-Rate bei elektronischen Bauelementen.
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