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E DIN IEC 62047-2:2004-08 (Entwurf)
Microelectromechanical devices - Part 2: Tensile testing method of thin film materials.
Automatische name übersetzung:
Bauteile der Mikrosystemtechnik - Teil 2: Prüfverfahren zur Zugbeanspruchung bei Dünnschicht-Werkstoffen.
NORM herausgegeben am 1.8.2004
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: E DIN IEC 62047-2:2004-08
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.8.2004
SKU: NS-303798
Zahl der Seiten: 22
Gewicht ca.: 66 g (0.15 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm (Entwurf)
Kategorie: Technische Normen DIN
Die Annotation des Normtextes E DIN IEC 62047-2:2004-08 :
Bauteile der Mikrosystemtechnik - Teil 2: Prüfverfahren zur Zugbeanspruchung bei Dünnschicht-Werkstoffen.
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