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E DIN IEC 62132-2:2006-08 (Entwurf)
Integrated Circuits - Measurement of Electromagnetic Immunity, 150 kHz to 1 GHz - Part 2: Measurement of Radiated Immunity - Tem-Cell and Wideband Tem-Cell Method.
Automatische name übersetzung:
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 2: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - TEM-Zellen- und Breitband-TEM-Zellenverfahren.
NORM herausgegeben am 1.8.2006
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: E DIN IEC 62132-2:2006-08
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.8.2006
SKU: NS-303825
Zahl der Seiten: 33
Gewicht ca.: 99 g (0.22 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm (Entwurf)
Kategorie: Technische Normen DIN
Die Annotation des Normtextes E DIN IEC 62132-2:2006-08 :
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 2: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - TEM-Zellen- und Breitband-TEM-Zellenverfahren.
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