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E DIN IEC 62416:2007-08 (Entwurf)
Hot Carrier Test on MOS Transistors.
Automatische name übersetzung:
Hot-Carrier-Prüfverfahren für MOS-Transistoren.
NORM herausgegeben am 1.8.2007
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: E DIN IEC 62416:2007-08
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.8.2007
SKU: NS-303974
Zahl der Seiten: 16
Gewicht ca.: 48 g (0.11 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm (Entwurf)
Kategorie: Technische Normen DIN
Die Annotation des Normtextes E DIN IEC 62416:2007-08 :
Hot-Carrier-Prüfverfahren für MOS-Transistoren.
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