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E DIN IEC/TS 62132-9:2012-11 (Entwurf)
VDE V 0847-22-9. Integrated circuits - measurement of electromagnetic immunity - Part 9: Measurement of radiated immunity - Surface scan method.
Automatische name übersetzung:
VDE V 0847-22-9. Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 9: Messung der abgestrahlten Immunität - Oberflächen Scan-Verfahren.
NORM herausgegeben am 1.11.2012
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: E DIN IEC/TS 62132-9:2012-11
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.11.2012
SKU: NS-603672
Zahl der Seiten: 52
Gewicht ca.: 156 g (0.34 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm (Entwurf)
Kategorie: Technische Normen DIN
Die Annotation des Normtextes E DIN IEC/TS 62132-9:2012-11 :
VDE V 0847-22-9. Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 9: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - Verfahren der Oberflächenabtastung.
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