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Method for measuring crystallographic orientation of flats on single crystal silicon slices and wafers by X-ray techniques
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NORM herausgegeben am 19.2.1992
Bezeichnung normen: GB/T 13388-1992
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 19.2.1992
SKU: NS-863058
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB
Letzte Aktualisierung: 2026-07-31 (Zahl der Positionen: 2 290 450)
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