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UNGÜLTIG GB/T 14847-1993 24.12.1993 Ansicht

GB/T 14847-1993

Test method for thickness of lightly doped silicon epitaxial layers on heavily doped silicon substrates by infrared reflectance

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NORM herausgegeben am 24.12.1993


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Zugänglichkeitin 3 Werktagen
Preis343.40 € ohne MWS
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: GB/T 14847-1993
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 24.12.1993
SKU: NS-1172416
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB

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