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GB/T 30701-2014
Surface chemical analysisChemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
Automatische name übersetzung:
Chemische Oberflächen-Analyse? Hemische Methoden zur Sammlung von Elementen, von der Oberfläche der Silizium-Wafer Arbeitsreferenzmaterialien und ihre Entschlossenheit durch Totalreflexion Röntgenfluoreszenz (TXRF) -Spektroskopie
NORM herausgegeben am 27.3.2014
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: GB/T 30701-2014
Ausgabedatum normen: 27.3.2014
SKU: NS-366429
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB
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