Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
GB/T 31225-2014
Test method for the thickness of silicon oxide on Si substrate by ellipsometer
Automatische name übersetzung:
Testverfahren für die Dicke der Siliciumoxid auf Si-Substrat Ellipsometer
NORM herausgegeben am 30.9.2014
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: GB/T 31225-2014
Ausgabedatum normen: 30.9.2014
SKU: NS-367011
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB
Kategorie - ähnliche Normen:
Empfehlungen:
Aktualisierung der technischen Normen
Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Normen verwenden?
Wir bieten Ihnen eine Lösung, die Ihnen eine Monatsübersicht über die Aktualität der von Ihnen angewandten Normen sicher stellt.
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
