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Nondestructive test method for micropipe density of polished monocrystalline silicon carbide wafers
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NORM herausgegeben am 31.12.2014
Bezeichnung normen: GB/T 31351-2014
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 31.12.2014
SKU: NS-648166
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB
Letzte Aktualisierung: 2026-04-01 (Zahl der Positionen: 2 270 267)
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