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Surface chemical analysis—Depth profiling—Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films
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NORM herausgegeben am 31.12.2021
Bezeichnung normen: GB/T 41064-2021
Ausgabedatum normen: 31.12.2021
SKU: NS-1047145
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB
Letzte Aktualisierung: 2026-10-23 (Zahl der Positionen: 2 207 789)
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