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Space environment—Method of single event upset rates prediction of semiconductor devices for space applications
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NORM herausgegeben am 24.7.2024
Bezeichnung normen: GB/T 44181-2024
Ausgabedatum normen: 24.7.2024
SKU: NS-1201758
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB
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Letzte Aktualisierung: 2026-05-22 (Zahl der Positionen: 2 279 810)
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