Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
Micro-electromechanical systems (MEMS) technology—Wafer curvature and cantilever beam deflection test methods for determining residual stresses of MEMS films
Name übersetzen
NORM herausgegeben am 29.9.2024
Bezeichnung normen: GB/T 44517-2024
Ausgabedatum normen: 29.9.2024
SKU: NS-1202057
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB
Letzte Aktualisierung: 2026-09-04 (Zahl der Positionen: 2 300 131)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.