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Semiconductor devices—Mechanical and climate test methods—Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing—Charged device model (CDM)—device level
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NORM herausgegeben am 27.2.2026
Bezeichnung normen: GB/T 4937.28-2026
Anmerkung: Execute Date: september 2026
Ausgabedatum normen: 27.2.2026
SKU: NS-1264510
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB
Letzte Aktualisierung: 2026-07-12 (Zahl der Positionen: 2 286 472)
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