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Compound semiconductive single crystals--Determination of crzystallographic orientation--X-ray diffraction method
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NORM herausgegeben am 1.1.1988
| Sprache | |
| Realisierung |
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| Zugänglichkeit | Nicht auf Lager |
| Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Bezeichnung normen: GB/T 8759-1988
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.1.1988
SKU: NS-1231793
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB
Letzte Aktualisierung: 2026-10-16 (Zahl der Positionen: 2 307 409)
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