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GOST R 8.698-2010
State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer
Automatische name übersetzung:
Zustand System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Dimensional Parameter von Nanopartikeln und dünnen Filmen. Verfahren zur Messung mittels einer Kleinwinkel-Röntgenstreuung Diffraktometer
NORM herausgegeben am 1.9.2010
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: GOST R 8.698-2010
Ausgabedatum normen: 1.9.2010
SKU: NS-404491
Zahl der Seiten: 38
Gewicht ca.: 114 g (0.25 Pfund)
Land: Russische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GOST
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