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IEC 60444-2-ed.1.0
Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network. Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units
Automatische name übersetzung:
Messung von Schwingquarz-Parametern nach dem Null Phasenverfahren in einem Pi-Netzwerk. Teil 2: Phase-Offset-Methode für die Messung der Bewegungskapazität von Schwingquarzen
NORM herausgegeben am 1.1.1980
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC 60444-2-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 1.1.1980
SKU: NS-410248
Zahl der Seiten: 18
Gewicht ca.: 54 g (0.12 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
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Die Annotation des Normtextes IEC 60444-2-ed.1.0 :
Describes a method of measuring the motional capacitance of quartz crystal units in the frequency range 1 MHz to 125 MHz with a total measurement error of the order of 5%. Decrit une methode de mesure de la capacite dynamique des quartz dans une gamme de frequences de 1 MHz a 125 MHz avec une erreur totale de mesure de lordre de 5%.
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