Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-3: Test 25c - Rise time degradation
Automatische name übersetzung:
Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-3: Prüfung 25c - Anstiegszeit Abbau
NORM herausgegeben am 26.7.2001
Bezeichnung normen: IEC 60512-25-3-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 26.7.2001
SKU: NS-410472
Zahl der Seiten: 23
Gewicht ca.: 69 g (0.15 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
Describes a method for measuring the effect a specimen has on the rise time of a signal passing through it. Decrit une methode pour mesurer l'effet qu'un echantillon peut avoir sur le temps de montee d'un signal qui le traverse.
21.2.2002
11.8.2003
21.2.2002
22.2.2002
21.2.2002
21.2.2002
Letzte Aktualisierung: 2025-06-26 (Zahl der Positionen: 2 205 981)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.