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Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-6: Test 25f: Eye pattern and jitter
Automatische name übersetzung:
Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-6: Prüfung 25f: Augenmuster und Jitter
NORM herausgegeben am 26.5.2004
Bezeichnung normen: IEC 60512-25-6-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 26.5.2004
SKU: NS-410475
Zahl der Seiten: 35
Gewicht ca.: 105 g (0.23 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
Describes methods for measuring an eye pattern response and jitter in the time domain. Decrit les methodes pour mesurer la reponse en diagramme de l'oeil et la gigue dans le domaine temporel.
14.5.2008
22.2.2002
16.5.2003
22.2.2002
16.5.2003
22.2.2002
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Letzte Aktualisierung: 2025-05-05 (Zahl der Positionen: 2 198 283)
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