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IEC 60748-23-2-ed.1.0
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 23-2: Hybrid integrated circuits and film structures - Manufacturing line certification - Internal visual inspection and special tests
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Integrierte Schaltungen - Teil 23-2: integrierte Hybrid-Schaltungen und Folienstrukturen - Fertigungslinie Zertifizierung - Innensichtprüfung und spezielle Tests
NORM herausgegeben am 23.5.2002
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC 60748-23-2-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 23.5.2002
SKU: NS-411346
Zahl der Seiten: 97
Gewicht ca.: 322 g (0.71 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
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Die Annotation des Normtextes IEC 60748-23-2-ed.1.0 :
Applies to high quality approval systems for hybrid integrated circuits and film structures. The purpose of the tests is to perform visual inspections on the internal materials, construction and workmanship of hybrid, multichip and multichip module microcircuits and passive elements used for microelectronic applications including r.f./microwave. These tests will normally be used on microelectronic devices prior to capping or encapsulation to detect and eliminate devices with internal non-conformances that could lead to device failure in normal application. They may also be employed on a sampling basis to determine the effectiveness of the manufacturers quality control and handling procedures.
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