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IEC 60749-2-ed.1.0/Cor.1
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
Automatische name übersetzung:
Korrektur 1 - Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 2: Niedriger Luftdruck
NORM herausgegeben am 12.8.2003
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC 60749-2-ed.1.0/Cor.1
Anmerkung: Korrektur
Ausgabedatum normen: 12.8.2003
SKU: NS-411379
Gewicht ca.: 300 g (0.66 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
Kategorie - ähnliche Normen:
Die Annotation des Normtextes IEC 60749-2-ed.1.0/Cor.1 :
Modification of the validity date: now put at 2007. Modification de la date de validite : fixee maintenant a 2007.
Diese Änderung (Korrektur) bezieht sich auf diese Norm:
IEC 60749-2-ed.1.0
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 2: Basse pression atmospherique)
Die Norm herausgegeben am 12.4.2002
Ausgewählte Ausführung:Alle technischen Informationen anzeigen
