Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
IEC 60749-27-ed.2.0/Amd.1
Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
Automatische name übersetzung:
Abänderung 1 - Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Elektrostatische Entladung (ESD) Empfindlichkeitsprüfung - Maschinenmodell(MM)
NORM herausgegeben am 25.9.2012
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC 60749-27-ed.2.0/Amd.1
Anmerkung: Änderung
Ausgabedatum normen: 25.9.2012
SKU: NS-620068
Zahl der Seiten: 5
Gewicht ca.: 15 g (0.03 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
Kategorie - ähnliche Normen:
Diese Änderung (Korrektur) bezieht sich auf diese Norm:
IEC 60749-27-ed.2.0
Alle technischen Informationen anzeigen
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 27: Essai de sensibilite aux decharges electrostatiques (DES) - Modele de machine (MM))
Die Norm herausgegeben am 18.7.2006
Ausgewählte Ausführung:Alle technischen Informationen anzeigen
Empfehlungen:
Aktualisierung der technischen Normen
Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Normen verwenden?
Wir bieten Ihnen eine Lösung, die Ihnen eine Monatsübersicht über die Aktualität der von Ihnen angewandten Normen sicher stellt.
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
