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IEC 60749-36-ed.1.0
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 36: Beschleunigung, Steady-State
NORM herausgegeben am 13.2.2003
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC 60749-36-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 13.2.2003
SKU: NS-411410
Zahl der Seiten: 7
Gewicht ca.: 21 g (0.05 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
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Die Annotation des Normtextes IEC 60749-36-ed.1.0 :
Provides a test for determining the effects of constant acceleration on cavity-type semiconductor devices. It is an accelerated test designed to indicate types of structural and mechanical weaknesses not necessarily detected in shock and vibration test. Decrit un essai utilise pour determiner les effets dacceleration constante sur les dispositifs a semiconducteurs de type a cavite. Il sagit dun essai accelere destine a indiquer les types de faiblesses structurelles et mecaniques non necessairement detectees dans les essais de chocs et de vibrations.
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