Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
IEC 60749-41-ed.1.0
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
Name übersetzen
NORM herausgegeben am 22.7.2020
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC 60749-41-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 22.7.2020
SKU: NS-1000955
Gewicht ca.: 300 g (0.66 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
Kategorie - ähnliche Normen:
Die Annotation des Normtextes IEC 60749-41-ed.1.0 :
IEC 60749-41:2020 specifies the procedural requirements for performing valid endurance, retention and cross-temperature tests based on a qualification specification. Endurance and retention qualification specifications (for cycle counts, durations, temperatures, and sample sizes) are specified in JESD47 or are developed using knowledge-based methods such as in JESD94. L’IEC 60749-41:2020 specifie les exigences relatives aux procedures permettant de realiser des essais valides d’endurance, de conservation de donnees et a temperatures opposees, basees sur une specification de qualification. Les specifications de qualification des essais d’endurance et de conservation de donnees (pour les nombres de cycles, durees, temperatures et tailles d’echantillon) sont donnees dans le document JESD47 ou sont developpees en utilisant des methodes a base de connaissances, telles que celles donnees dans le document JESD94.
Empfehlungen:
Aktualisierung der technischen Normen
Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Normen verwenden?
Wir bieten Ihnen eine Lösung, die Ihnen eine Monatsübersicht über die Aktualität der von Ihnen angewandten Normen sicher stellt.
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
