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IEC 60759-ed.1.0
Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
Automatische name übersetzung:
Standard-Testverfahren für die Halbleiterröntgenenergie-Spektrometer
NORM herausgegeben am 1.1.1983
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC 60759-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 1.1.1983
SKU: NS-411435
Zahl der Seiten: 97
Gewicht ca.: 322 g (0.71 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
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Die Annotation des Normtextes IEC 60759-ed.1.0 :
Gives standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers consisting of a semiconductor radiation detector assembly and signal processing electronics interfaced to a pulse-height analyzer/computer. Donne les methodes dessais normalises des spectrometres denergie X a semicteur constitues dun semicteur et de lelectronique de traitement du signal lies par une interface a un analyseur damplitude couple a un calculateur.
Zugehörige Änderungen zu dieser Norm:
IEC 60759-ed.1.0/Amd.1
Änderung
Alle technischen Informationen anzeigen
Amendment 1 - Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
(Amendement 1 - Methodes d´essais normalises des spectrometres d´energie X a semicteur)
Änderung herausgegeben am 15.11.1991
Ausgewählte Ausführung:Alle technischen Informationen anzeigen
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